原位測(cè)量！高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x

一．測(cè)量?jī)x概述

                昊量光電新推出高分辨率納米粒度和 Zeta 電位二合一測(cè)量?jī)x，基于動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 和激光多普勒電泳 (LDE) 技術(shù)，提供高分辨率、準(zhǔn)確快速的表征能力，一臺(tái)儀器即可全面分析納米顆粒懸浮液。其獨(dú)特亮點(diǎn)在于可選配用于外部原位測(cè)量的非接觸式光纖探頭，實(shí)現(xiàn)對(duì)定制容器、反應(yīng)器內(nèi)部或預(yù)灌封注射器等場(chǎng)景的直接無(wú)損監(jiān)測(cè)，避免了分批處理，集成了粒度、Zeta 電位和遠(yuǎn)程測(cè)量這“三合一解決方案"；該儀器及其專用軟件，廣泛適用于評(píng)估制劑穩(wěn)定性、研究納米顆粒聚集、分析乳劑分散以及制藥、石化、聚合物、生物膠體、顏料油墨等多種應(yīng)用領(lǐng)域。

二．高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x的特點(diǎn)

        基于新一代動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和激光多普勒電泳(LDE)技術(shù),可實(shí)現(xiàn)高分辨率、準(zhǔn)確和快速的測(cè)量。

        ·高質(zhì)量光纖激光器,精度更高

        ·快速APD探測(cè)器

        ·170°和17°測(cè)量

        ·軟件相關(guān)處理機(jī)

        ·原創(chuàng)計(jì)算算法

                        ·用于非接觸式測(cè)量的原位遠(yuǎn)程測(cè)量頭。

                        ·可用于各種定制化測(cè)量,包括空間受限環(huán)境和/或惡劣環(huán)境中的測(cè)量。

                        ·創(chuàng)新型無(wú)氧化玻璃碳電極，易于清潔

                        ·無(wú)需使用特定耗材

                        ·與標(biāo)準(zhǔn) 10 mmx10 mm 比色皿兼容

                        ·不同材質(zhì)可供選擇:石英、玻璃或聚苯乙烯,與各種溶劑兼容

                        ·通過(guò)抑制溶劑引起的沿比色皿壁的位移，避免電滲透效應(yīng)等偽影

三．產(chǎn)品參數(shù)

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